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嵌入式膜厚测试仪
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椭圆偏光膜厚测试仪(自动)
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膜厚仪
anoMap-1000WLI 膜厚仪仪器简介:该膜厚仪提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动
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filmetrics 台式膜厚测试仪 F20
测量厚度和折射率。设置同样简单, 只需插上设备到您运行Windows™系统计算机的USB端口, 并连接样品平台 ,F20系列膜厚测试仪的具体的应用实例:1.非晶态多晶硅硅元素以非晶和晶体两种形式存在
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SURAGUS EddyCus® TF膜厚面阻测试仪
传感器 产品简介 EddyCus® TF lab系列产品是一款适合实验室研发或成品检测使用的面阻及膜厚实时测量仪器。其应用领域广泛,不仅适用于玻璃、硅、塑料基板上的导电性薄膜的面电阻和厚度的测量
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EC-770F 铁基涂层测厚仪
EC-770F涂层测厚仪,能测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等)。 本仪表内置高精密探头,利用电磁感应原理,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。同时
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EC-770N 导电金属基涂层测厚仪
EC-770N涂层测厚仪,能测量非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密探头,利用涡流效应,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。EC-770N涂层测厚仪,能测量
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Map薄膜厚度测绘仪
薄膜厚度分布图(厚度以颜色标示): 厚度测绘软件: Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布,评价薄膜厚度的均一性,可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。 Map薄膜厚度测绘仪用于
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膜厚监测仪
230V 50 Hz (3 Amp Max) EMS 150膜厚监控仪和喷金仪/离子溅射仪/喷碳仪/蒸发镀膜仪配套使用,以便对膜厚进行监控。提供内置模块和外接装置。EMS 150膜厚监控仪
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膜厚监测仪
技术参数EQ-TM106-1监测组件1、电源:DC 5V(±10%),最大电流400mA2、频率分辨率:±0.03Hz3、膜厚分辨率:0.0136?(铝)4、膜厚准确度:±0.5%,取决于
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